میکروسکوپ الکترونی روبشی یا SEM یکی از اعضای خانواده میکروسکوپ‌های الکترونی است که برای تصویربرداری از نمونه و بررسی ویژگی‌های سطحی و مورفولوژی آن استفاده می‌شود. در این روش، تصاویر توسط الکترون‌ها ثبت می‌شوند که قدرت بزرگنمایی بسیار بالا نسبت به میکروسکوپ‌های نوری دارند ...
آنالیز VSM (مغناطیس سنج نمونه ارتعاشی) یکی از اصلی‌ترین روش‌ها در بررسی خواص مغناطیسی مواد است. نتیجه این آنالیز، بدست آوردن منحنی هیسترسیس یا حلقه پسماند مواد است که با استفاده از آن می‌توان مقادیری مانند وادارندگی، مغناطش اشباع و نفوذپذیری مغناطیسی را محاسبه ...
آنالیز XRD (پراش پرتو ایکس) یکی از روش های متداول در شناسایی ترکیبات و فازهای مواد است و جزئی از آنالیزهای طیف سنجی است. در آنالیز XRD، پرتوهای ایکس با طول موج کوتاه با ساختارهای اتمی مواد برخورد می کنند و به این ترتیب، ...
آنالیز FESEM یا اسکن الکترونی میدانی با فوکوس الکترونی بهترین روش برای بررسی ویژگی های سطحی و مورفولوژی نمونه هاست. این روش با استفاده از پرتوهای الکترونی با انرژی و طول موج مشخص سطح نمونه را به دقت بررسی می کند. با تجمیع داده ...
